Techniques d'inspection et de dépistage

Fort de 70 ans d’expérience en analyse chimique et en recherche appliquée, Centexbel a développé un laboratoire chimique ultramoderne. Lors du choix des instruments les plus avancés ou du développement de nouvelles méthodes d’essai, nous tenons toujours compte des besoins quotidiens de nos partenaires industriels. Dans notre laboratoire accrédité ISO 17025, Centexbel propose une large gamme de tests normalisés.

Le laboratoire chimique est fier de son expertise en techniques d’inspection, en tests de vêtements de protection, en analyse thermique, en détermination élémentaire, en techniques de séparation chromatographique et en tests d’émission des matériaux d’intérieur.

Une image vaut mille mots

Des images claires améliorent considérablement la communication entre clients et fournisseurs à travers les continents — on voit immédiatement de quoi il s’agit. Les chercheurs s’appuient également sur ces images pour vérifier si leurs idées ont été traduites en véritables innovations.

Image SEM d’un matériau en mousse

Microscopie

Microscopie optique et analyse d’image

Avec les microscopes les plus récents, il est possible de créer des reconstructions 3D. Grâce au Nikon Eclipse LVPol "3D", Centexbel capture des images étape par étape. Ces Z-stacks peuvent être combinés mathématiquement en une image 3D, visualisable avec des lunettes 3D.

Une autre nouvelle technique d’imagerie est le "stitching", où plusieurs images sont assemblées en une seule image d’ensemble pour l’analyse. Aujourd’hui, l’analyse d’image est une technique courante, par exemple pour mesurer les paramètres de fibres trilobées extrudées.

Microscopie opto-numérique

La numérisation entraîne l’apparition de nouveaux instruments qui remplacent progressivement les microscopes binoculaires. Avec l’Olympus DSX 100, Centexbel produit des images extrêmement nettes avec une profondeur de champ exceptionnelle.

Combiné au stitching, cela offre une vue panoramique des macro-objets — une image à profondeur étendue. Grâce à l’inclinaison libre, les échantillons peuvent être observés sous tous les angles.

Microscopie électronique à balayage (SEM)

Pour observer les nanomatériaux, nous utilisons un microscope électronique haute performance pour :

Évaluer le succès de l’électrofilage
Étudier la déposition de nanotubes de carbone (CNT)
Observer comment les nanofibrilles renforcent les structures polymères

La microscopie électronique n’est pas limitée aux nanomatériaux. Elle est également idéale pour :

Observer la structure divisée des microfibres dans les fermetures auto-agrippantes
Imager des tissus enduits contenant des billes de verre
Visualiser la structure cellulaire des mousses

Techniques de cartographie au-delà du SEM

La cartographie peut également être réalisée avec d’autres techniques :

Les techniques µXRay visualisent la distribution des éléments
La microscopie IR fournit une cartographie des distributions des composés chimiques
L’analyse dynamique d’espace de tête (DHS) détecte les composés volatils et semi-volatils (VOC et SVOC) dans les biens de consommation
LC-MS et ICP-MS peuvent également être utilisés en mode de screening

En combinant les techniques, nous pouvons détecter la présence de substances REACH/SVHC ou d’une large gamme de retardateurs de flamme.

Cartographie XRF

Le système micro-XRF Bruker Tornado M4 cartographie les éléments de F à U. Il mesure rapidement les différents composants d’un produit, fournissant une mine d’informations.

Avec une gamme de 5 faisceaux de rayons X, allant d’un spot fin de 20 µm à un spot plus large de 4,5 mm, le système permet d’optimiser la résolution spatiale et la sensibilité selon l’application.
La micro-XRF mesure rapidement les différents composants d’un produit, fournit une mine d’informations à faible coût, et permet de limiter les tests coûteux comme l’analyse ICP aux parties testées positives.
La cartographie de la présence des différents éléments peut être effectuée à la fois sur la surface et sur la section transversale d’un échantillon, révélant la présence et l’intensité des éléments chimiques testés dans un matériau complexe.

Exemple de technique de cartographie

Cartographie avec le système micro-XRF Bruker Tornado M4 de la composition chimique responsable de la tache sur l’échantillon.

Cette analyse révèle la présence de Fe, Zn et Ti.

Exemple d'un spectre obtenu par analyse XRF

FTIR & microscopie FTIR

La FTIR est une technique puissante pour analyser la composition des matériaux, particulièrement efficace pour détecter les composants organiques.

Au cours des 30 dernières années, Centexbel a développé sa propre bibliothèque FTIR de produits couramment utilisés dans les industries textiles et polymères, complétant ainsi les bases de données commerciales.

Une analyse FTIR rapide permet d'identifier le matériau principal de votre produit (par exemple, polymère, caoutchouc), tandis qu'une interprétation spectrale détaillée par des spécialistes peut fournir des informations détaillées, telles que la composition du composé ou la présence ou l'absence d'additifs.
La FTIR peut également être combinée à des techniques d'extraction chimique pour détecter les constituants mineurs de votre matériau.
De plus, le microscope FTIR de Centexbel offre une résolution spatiale de 50 µm, ce qui permet d'analyser les petites particules à la surface de votre matériau.

Combinier la XRF à la FTIR

Lorsque l'imagerie est combinée à la XRF et à la FTIR, il est possible d'évaluer un large éventail de défauts.

Cette approche permet de

déterminer la composition des efflorescences superficielles
identifier la nature et la composition des contaminants ou des taches indésirables
analyser la composition des petites particules métalliques