Inspectie- en Screening Technieken

Met 70 jaar ervaring in chemische analyse en toegepast onderzoek heeft Centexbel een ultramodern chemisch laboratorium ontwikkeld. Bij het selecteren van de meest geavanceerde instrumenten of het ontwikkelen van nieuwe testmethoden, houden we altijd rekening met de dagelijkse behoeften van onze industriële partners. In ons ISO 17025-geaccrediteerd laboratorium biedt Centexbel een breed scala aan gestandaardiseerde tests aan.

Het chemisch laboratorium is trots op zijn expertise in inspectietechnieken, het testen van beschermende kleding, thermische analyse, elementbepaling, chromatografische scheidingstechnieken en emissietesten van interieumaterialen.

Een beeld zegt meer dan duizend woorden

Duidelijke beelden verbeteren de communicatie tussen klanten en leveranciers over continenten heen aanzienlijk — we zien onmiddellijk waar het over gaat. Onderzoekers vertrouwen ook op deze beelden om te verifiëren of hun ideeën zijn omgezet in echte innovaties.

SEM-beeld van een schuimmateriaal

Microscopie

Optische microscopie en beeldanalyse

Met de nieuwste microscopen kunnen 3D-reconstructies worden gemaakt. Met de Nikon Eclipse LVPol "3D" legt Centexbel stapsgewijs beelden vast. Deze Z-stacks kunnen wiskundig worden gecombineerd tot een 3D-beeld dat met 3D-brillen kan worden bekeken.

Een andere nieuwe beeldvormingstechniek is "stitching", waarbij meerdere frames worden samengevoegd tot één overzichtsbeeld voor analyse. Tegenwoordig is beeldanalyse een routinetechniek, bijvoorbeeld voor het meten van parameters van trilobaal geëxtrudeerde vezels.

Opto-digitale microscopie

Digitalisering leidt tot nieuwe instrumenten die geleidelijk de binoculaire microscopen vervangen. Met de Olympus DSX 100 produceert Centexbel uiterst heldere beelden met uitzonderlijke scherptediepte. In combinatie met stitching levert dit een panoramisch beeld van macro-objecten — een uitgebreid focusbeeld. Dankzij vrij kantelen kunnen monsters vanuit alle hoeken worden bekeken.

SEM-elektronenmicroscopie

Om nanomaterialen te observeren gebruiken we een high-performance elektronenmicroscoop voor:

Evaluatie van het succes van elektrospinning
Onderzoek naar de depositie van koolstofnanobuizen (CNT’s)
Observatie van hoe nanofibrillen polymeerstructuren versterken

Elektronenmicroscopie is niet beperkt tot nanomaterialen. Het is ook ideaal voor:

Observatie van de gesplitste structuur van microvezels in klittenbandsluitingen
Beeldvorming van gecoate stoffen met ingesloten glasparels
Visualisatie van schuimcelstructuren

Mappingtechnieken buiten SEM

Mapping kan ook worden uitgevoerd met andere technieken:

µXRay-technieken visualiseren de verdeling van elementen
IR-microscopie geeft mapping van de distributie van chemische verbindingen
Dynamische headspace-analyse (DHS) detecteert vluchtige en semi-vluchtige verbindingen (VOC en SVOC) in consumentenproducten
LC-MS en ICP-MS kunnen ook in screeningsmodus worden gebruikt

Door technieken te combineren, kunnen we de aanwezigheid van REACH/SVHC-stoffen of een breed scala aan vlamvertragers detecteren.

XRF mapping

Het Bruker Tornado M4 micro-XRF-systeem maakt een kaart van elementen van F tot U. Het meet snel de verschillende componenten van een product en biedt een schat aan informatie.

Met een bereik van 5 röntgenbundels, variërend van een fijne 20 µm-spot tot een bredere 4,5 mm-spot, kan het systeem worden geoptimaliseerd tussen ruimtelijke resolutie en gevoeligheid voor elke toepassing.
Micro-XRF meet snel de verschillende componenten van een product, biedt een schat aan informatie tegen lage kosten, en maakt het mogelijk dure tests zoals ICP-analyses te beperken tot de delen die positief testen.
Mapping van de aanwezigheid van de verschillende elementen kan zowel op het oppervlak als op een doorsnede van een monster worden uitgevoerd, waardoor de aanwezigheid en intensiteit van geteste chemische elementen in een complex materiaal zichtbaar worden.

Voorbeeld van mappingtechniek

Mapping met het Bruker Tornado M4 micro-XRF-systeem van de chemische samenstelling verantwoordelijk voor de vlek op het monster.

Deze analyse toont de aanwezigheid van Fe, Zn en Ti.

Voorbeeld van een spectrum verkregen via XRF analyse

FTIR en FTIR-microscopy

FTIR is een krachtige techniek voor het analyseren van de samenstelling van materialen, die bijzonder effectief is bij het detecteren van organische componenten.

In de afgelopen 30 jaar heeft Centexbel een eigen FTIR-bibliotheek ontwikkeld met producten die veel worden gebruikt in de textiel- en polymeerindustrie, als aanvulling op commerciële databases.

Een snelle FTIR-analyse kan het belangrijkste materiaal van uw product identificeren (bijv. polymeer, rubber), terwijl een gedetailleerde spectrale interpretatie door specialisten uitgebreide informatie kan opleveren, zoals de samenstelling van verbindingen of de aanwezigheid of afwezigheid van additieven.
FTIR kan ook worden gecombineerd met chemische extractietechnieken om minder belangrijke bestanddelen in uw materiaal op te sporen.
Bovendien biedt de FTIR-microscoop van Centexbel een ruimtelijke resolutie van 50 µm, waardoor kleine deeltjes op het oppervlak van uw materiaal kunnen worden geanalyseerd.

XRF en FTIR combineren

Wanneer beeldvorming wordt gecombineerd met XRF en FTIR, kan een breed scala aan defecten worden beoordeeld.

Met deze aanpak kan

de samenstelling van oppervlaktebloei worden bepaald
de aard en samenstelling van verontreinigingen of ongewenste vlekken worden geïdentificeerd
de samenstelling van kleine metaaldeeltjes worden geanalyseerd